Оптоволоконно-интерференционный линейный базис для контроля точности лазерных дальномеров

Геодезия
УДК: 
528.5+681.78
DOI: 
10.22389/0016-7126-2016-915-9-18-21
1 Хомушко Д.В.
Год: 
2016
№: 
9
915
Страницы: 
18–21

Элитзем, ЧП

1, 
Аннотация:
В современной геодезии предъявляются высокие требования к точности линейных измерений. Для обеспечения требуемой точности и единства линейных измерений, значительный объём которых выполняется с помощью лазерных дальномеров, приборы нужно периодически эталонировать на образцовых линейных базисах. В статье рассмотрены вопросы метрологического обеспечения лазерных дальномеров. Показана возможность создания лабораторного эталонного линейного базиса компактных размеров с контрольными линиями повышенной длины при сохранении высокой точности измерений. Такой результат достигается благодаря объединению схем оптоволоконного и интерференционного линейных базисов, что позволяет качественно улучшить систему метрологического обеспечения лазерных дальномеров. При этом оптоволоконный блок базиса позволит задавать базисные линии повышенной длины, а интерференционный блок обеспечит высокую точность контроля без необходимости определения показателя преломления среды. Приведена функциональная схема оптоволоконно-интерференционного линейного базиса для контроля точности электронных тахеометров.

Список литературы: 
1.   Бурачек В.Г., Сухомлин М.Ю., Хомушко Д.В. Патент України на винахід № 105031, МПК G01C 3/00 (2014.01). Пристрій для автоматичного контролю точності геодезичних світловіддалемірів; заявники та патентовласники: Чернігівський державний інститут економіки та управління (UA) – № a201110653; заявл. 05.
2.   Виноградов Н.С. Разработка методов метрологического контроля измерительных систем лазерного дальномера / Дис. на соиск. уч. ст. канд. тех. наук: 05.11.01. – Санкт-Петербург: Санкт-Петербургский нац. исслед. ун-т информационных технологий, механики и оптики, – 2012. – 80 c.
3.   Виноградов Н.С., Воронцов Е.А. Оптоволоконный базис для поверки дальномерных блоков тахеометра // Изв. вузов. Приборостроение. – 2011. – Т. 54. – № 7. – С. 15–19.
4.   Резак Е.В., Прокопович М.Р. Учёт погрешности измерения длины оптического волокна // Вестник тихоокеанского государственного университета. – 2008. – № 4. – С. 167–172.
5.   Сучков И.О. Базис пространственный эталонный им. О.П. Сучкова // Интерэкспо Гео-Сибирь. – 2009. – № 1. – С. 237–241.
6.   Тревого І.С., Цюпак І.М., Геґер В. Еталонний геодезичний базис: аналіз результатів і нова атестація // Сучасні досягнення геодезичної науки та виробництва. – 2011. – № 1. – С. 65–68.
7.   Jaroslav Braun, Martin Štroner, Rudolf Urban, [and others] (2015) Suppression of Systematic Errors of Electronic Distance Meters for Measurement of Short Distances 15(8), pp. 19264–19301.
8.   Sabine Reischmann (2010) Accreditation creates confidence // Customer Magazine of Leica Geosystems. 63, pp. 6–7.
Образец цитирования:
Хомушко Д.В., 
Оптоволоконно-интерференционный линейный базис для контроля точности лазерных дальномеров // Геодезия и картография. – 2016. – № 9. – С. 18–21. DOI: 10.22389/0016-7126-2016-915-9-18-21
СТАТЬЯ
Поступила в редакцию: 12.04.2016
Принята к публикации: 02.06.2016
Опубликована: 25.10.2016

Авторы:

Хомушко Д.В.
Чернигов Украина
Об авторе

Содержание номера

2016 сентябрь DOI:
10.22389/0016-7126-2016-915-9