Приведены результаты исследования влияния вертикальной рефракции на нивелирование с помощью цифровых нивелиров. Показано, что при высокоточном нивелировании цифровым нивелиром наблюдается гораздо меньшее влияние вертикальной рефракции на отсчеты по рейкам, чем при работе с нивелиром с оптическим микрометром даже при высоте визирного луча над подстилающей поверхностью 50 см.